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SJ 3248-1989 重掺砷化镓和磷化铟载流子浓度的红外反射测试方法 电子行业标准(SJ) SJ3248-1989
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SJ 3249.1-1989 半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法 电子行业标准(SJ) SJ3249.1-1989
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SJ 3249.2-1989 半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法 电子行业标准(SJ) SJ3249.2-1989
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SJ 3243-1989 磷化铟单晶棒及片 电子行业标准(SJ) SJ3243-1989
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SJ 3244.1-1989 砷化镓和磷化铟材料霍尔迁移率和载流子浓度的测量方法 电子行业标准(SJ) SJ3244.1-1989
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SJ 3245-1989 磷化铟单晶位错的测量方法 电子行业标准(SJ) SJ3245-1989
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时间：1989-02-27 大小：KB 语言：简体中文 授权：免费下载 等级：
GB 1250-1989 极限数值的表示方法和判定方法 国家标准(GB) GB1250-1989 本标准规定了书写极限数值的方法，有关用语的涵义，以及将测定值或其计算值与标准规定的极限数值作比较的方法。本标准适用...
时间：1989-02-20 大小：KB 语言：简体中文 授权：免费下载 等级：
SJ 3234-1989 电子材料真空放气性能的动态测试方法 电子行业标准(SJ) SJ3234-1989
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时间：1989-02-10 大小：KB 语言：简体中文 授权：免费下载 等级：
SJ 3181-1989 电子器件图形库－集成电路图形库 电子行业标准(SJ) SJ3181-1989
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时间：1989-02-10 大小：KB 语言：简体中文 授权：免费下载 等级：
SJ 3195-1989 电子材料功函数的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ3195-1989
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