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SJ2355.2-1983 SJ 2355.2-1983 半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法

标准编号:SJ 2355.2-1983 时间:1983-11-25 大小:KB 浏览次数:25 下载次数:1
资料名称: SJ2355.2-1983 SJ 2355.2-1983 半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法
标准类别: 行业标准
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文件类型: .rar
整理时间: 1983-11-25
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实施日期: 1984-05-01(仅供参考)
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标准简介: SJ 2355.2-1983 半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2355.2-1983

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标准名称: 半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法
英文名称: Method of measurement for forward voltage drop of light-emitting devices(仅供参考)
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