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GB/T17473.1-1998 GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定

标准编号:GB/T 17473.1-1998 时间:1998-08-19 大小:KB 浏览次数:115 下载次数:34
资料名称: GB/T17473.1-1998 GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
标准类别: 国家标准
语  言: 简体中文
文件类型: .rar
整理时间: 1998-08-19
授权方式: 免费下载
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等  级:
标准状态: 已作废(仅供参考)
作废日期: 2008-09-01(仅供参考)
实施日期: 1999-03-01(仅供参考)
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标准简介: GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定 国家标准(GB) GB/T17473.1-1998 本标准规定了贵金属浆料中固体含量的测试方法。本标准适用于各种贵金属浆料中固体含量的测定。非贵金属浆料中固体含量的测定亦可参照使用。

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标准编号: GB/T 17473.1-1998 正在载入地址
标准名称: 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
英文名称: Test methods of  precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of solids content(仅供参考)
替代情况: 被GB/T 17473.1-2008代替(仅供参考)
采标情况: ≈ASTM F66-84 ≈ASTM D2369-95 ≈ASTM D4713-92(仅供参考)
发布部门: 国家质量技术监督局(仅供参考)
页  数: 平装16开, 页数:5, 字数:5千字(仅供参考)
首发日期: 1998-08-19(仅供参考)
复审日期: 2004-10-14(仅供参考)
提出单位: (仅供参考)
归口单位: 全国有色金属标准化技术委员会(仅供参考)
主管部门: 中国有色金属工业协会(仅供参考)
起草单位: 昆明贵金属研究所(仅供参考)
相关标准:
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