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YS/T666-2008 YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法 杂质素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

标准编号:YS/T 666-2008 时间:2008-03-12 大小:KB 浏览次数:158 下载次数:11
资料名称: YS/T666-2008 YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法 杂质素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
标准类别: 行业标准
语  言: 简体中文
文件类型: .rar
整理时间: 2008-03-12
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作废日期: (仅供参考)
实施日期: 2008-09-01(仅供参考)
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标准简介: YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法 杂质素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 有色金属行业标准(YS) YS/T666-2008 本标准规定了工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。本标准适用于工业镓[99.9%≤ω(%)≤99.995%]中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。

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标准编号: YS/T 666-2008 正在载入地址
标准名称: 工业镓化学分析方法 杂质素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
英文名称: Chemical analysis emthods of gallium for industrial use--Determination of impurity elements--Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method(仅供参考)
替代情况: (仅供参考)
采标情况: (仅供参考)
发布部门: 国家发展和改革委员会(仅供参考)
页  数: 8页(仅供参考)
首发日期: (仅供参考)
复审日期: (仅供参考)
提出单位: 全国有色金属标准化技术委员会(仅供参考)
归口单位: 全国有色金属标准化技术委员会(仅供参考)
主管部门: (仅供参考)
起草单位: 中国铝业股份有限公司河南分公司;中国有色金属工业标准计量质量研究所(仅供参考)
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