GB/T4937.1-2006 GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则
标准编号：GB/T 4937.1-2006 时间：2006-08-23 大小：KB 浏览次数：1247 下载次数：307| 资料名称： | GB/T4937.1-2006 GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则 | |
| 标准类别： | 国家标准 | ||
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 文件类型： | .rar | ||
| 整理时间： | 2006-08-23 | ||
| 授权方式： | 免费下载 | ||
| 下载方式： | FTP下载 | ||
| 等 级： |  |
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| 标准状态： | （仅供参考） | ||
| 作废日期： | （仅供参考） | ||
| 实施日期： | 2007-02-01（仅供参考） | ||
| 浏览次数： | 1247次 |
| 标准简介： | GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则 国家标准(GB) GB/T4937.1-2006 本部分代替GB/T 4937-1995《半导体器件 机械和气候试验方法》第Ⅰ篇总则。本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。 标准压缩包解压密码：www.51zbz.com |
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| 标准编号： | GB/T 4937.1-2006 正在载入地址 | |
| 标准名称： | 半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则 | |
| 英文名称： | Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General（仅供参考） | |
| 替代情况： | 替代GB/T 4937-1995（仅供参考） | |
| 采标情况： | IEC 60749-1:2002（仅供参考） | |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会（仅供参考） | |
| 页 数： | 6页（仅供参考） | |
| 首发日期： | 1985-02-06（仅供参考） | |
| 复审日期： | （仅供参考） | |
| 提出单位： | 中华人民共和国信息产业部（仅供参考） | |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会（仅供参考） | |
| 主管部门： | 信息产业部（电子）（仅供参考） | |
| 起草单位： | 中国电子科技集团公司第十三研究所（仅供参考） | |
| 相关标准： |
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| 下载次数： | 307次 | |
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