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GB/T15651.3-2003 GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

标准编号:GB/T 15651.3-2003 时间:2003-01-01 大小:KB 浏览次数:414 下载次数:115
资料名称: GB/T15651.3-2003 GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
标准类别: 国家标准
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实施日期: 2004-08-01(仅供参考)
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标准简介: GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 国家标准(GB) GB/T15651.3-2003 本部分适用于光电子器件的测试方法,用于光纤系统或子系统的除外。

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标准编号: GB/T 15651.3-2003 正在载入地址
标准名称: 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
英文名称: Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3:Optoelectronic devices—Measuring methods(仅供参考)
替代情况: (仅供参考)
采标情况: IEC 60747-5-3:1997,IDT(仅供参考)
发布部门: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局(仅供参考)
页  数: 16开, 页数:27, 字数:48千字(仅供参考)
首发日期: 2003-11-24(仅供参考)
复审日期: 2004-10-14(仅供参考)
提出单位: 中华人民共和国信息产业部(仅供参考)
归口单位: 全国半导体器件标准化技术委员会(仅供参考)
主管部门: 信息产业部(电子)(仅供参考)
起草单位: 华禹光谷股份有限公司半导体厂(仅供参考)
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