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GB6649-1986 GB 6649-1986 半导体集成电路外壳总规范

标准编号:GB 6649-1986 时间:1986-07-31 大小:KB 浏览次数:123 下载次数:27
资料名称: GB6649-1986 GB 6649-1986 半导体集成电路外壳总规范
标准类别: 国家标准
语  言: 简体中文
文件类型: .rar
整理时间: 1986-07-31
授权方式: 免费下载
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等  级:
标准状态: 已作废(仅供参考)
作废日期: (仅供参考)
实施日期: 1987-08-01(仅供参考)
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标准简介: GB 6649-1986 半导体集成电路外壳总规范 国家标准(GB) GB6649-1986 本规范适用于半导体集成电路外壳(以下简称外壳),它规定了对外壳进行质量评定时的总程序,并给出了下述测试和试验的总原则:电特性测试;气候和机械试验。对各类外壳,其详细规范和本规定构成对外壳质量的完整要求。

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标准编号: GB 6649-1986 正在载入地址
标准名称: 半导体集成电路外壳总规范
英文名称: Generic specification of packages for semiconductor integrated circuits(仅供参考)
替代情况: 作废;(仅供参考)
采标情况: (仅供参考)
发布部门: 国家标准局(仅供参考)
页  数: 24页(仅供参考)
首发日期: (仅供参考)
复审日期: (仅供参考)
提出单位: (仅供参考)
归口单位: (仅供参考)
主管部门: (仅供参考)
起草单位: 上海无线电十厂(仅供参考)
相关标准: 无相关信息
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