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SJ2214.5-1982 SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法

标准编号:SJ 2214.5-1982 时间:1982-11-30 大小:KB 浏览次数:43 下载次数:5
资料名称: SJ2214.5-1982 SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法
标准类别: 行业标准
语  言: 简体中文
文件类型: .rar
整理时间: 1982-11-30
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实施日期: 1983-07-01(仅供参考)
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标准简介: SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法 电子行业标准(SJ) SJ2214.5-1982

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标准编号: SJ 2214.5-1982 正在载入地址
标准名称: 半导体光敏二极管结电容的测试方法
英文名称: Method of measurement for junction capacitance of semiconductor photodiodes(仅供参考)
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